二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9238023 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一種用於制造微電子器件的掩模和晶圓檢測設備。它采用數字顯微鏡，具有高分辨率彩色液晶顯示屏，先進的高分辨率成像，以及用於自動檢測蒙版和晶片缺陷的強大算法。該系統提供2D和3D模式的圖像捕獲和操作，從而能夠對微電子元件進行全面分析。通過將此單元與LeitzLEICA專有軟件的高級算法配對,用戶可以準確快速地檢測給定設備的微結構中的國外和國內故障。該機還提供了廣闊的觀察領域，用於查看大型光掩模或晶圓區域，從而更容易與產品標準進行比較。使用高分辨率數字圖像與強大的軟件算法相結合,可以進行徑向和區域掃描,同時比較數字圖像和設計為檢查（DFI）數據。這使用戶能夠準確識別和定量測量可能存在的任何缺陷。該工具包括一個直觀的圖形用戶界面，允許在各種模式、儀表和圖像捕獲參數之間進行簡單選擇。它提供了一個易於使用的設置菜單,用戶可以在其中選擇自動分析和數據收集所需的參數。它還包括一種自動化的生產模式，用於快速、高效地分析大型光掩模和晶圓區域。資產的性能特點包括：改進數字聚焦能力；高速成像；多個視口；並放大到2500倍。數字圖像捕獲在亮場和暗場成像模式下都能很好地工作。該模型可以執行自動陰影和二進制邊緣檢測、自動材料存在測試、寄存器控制測試和間隙分析。綜上所述，LEICA MIS 200是一款功能強大、直觀的高分辨率掩模晶片檢測設備，具有先進的特點，簡化了檢測過程，對微電子元件缺陷進行了準確檢測和定量分析。該系統適用於自動化生產應用程序以及手動檢查方案。