二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9262659 待售

LEICA/VISTEC MIS 200掩模和晶圓檢測設備是一種先進的技術，結合了光學成像系統和先進的3D成像算法，為集成電路（IC）基板和掩模在IC制造過程中的檢測提供了全面的解決方案。該系統實現了廣泛的高分辨率檢查操作，包括對IC測試車的光學檢查、口罩組裝和電氣驗證。模塊化單元用途廣泛,可以完全定制以滿足任何生產要求。LEICA MIS 200機器采用高效設計,占地面積小,安裝成本低。該工具配備了強大的計算機處理器和高速內存。計算機資產連接到數字信號處理器（DSP）以提高性能。它還具有熱插拔硬盤,便於數據存儲和檢索。有光學顯微鏡和廣域顯微鏡，用於對IC測試車輛和口罩進行詳細檢查。該模型配備了一系列用於檢測集成電路的3D成像算法。這些算法可以分析IC的地形，檢測開路、短路、橋接等缺陷，並為IC提供準確的視覺表示。這有助於確保可靠性、準確性和法規遵從性。這些算法還有助於快速準確地檢測和分類缺陷。VISTEC MIS 200還包括一系列高級度量和診斷工具。這些功能強大的度量分析並顯示不同測量的結果,使技術人員能夠識別電路或掩碼的任何重大問題。該設備與行業標準協議和設備兼容,能夠連接到自動化測試設備、光學系統和其他硬件。MIS 200掩模和晶圓檢測系統是任何IC制造應用的理想解決方案。它的高級成像算法有助於保持任何IC的高精度和可靠性,其定制的配置和強大的工具使技術人員能夠快速輕松地診斷任何潛在缺陷。