二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9266272 待售

LEICA/VISTEC MIS 200掩模和晶圓檢測設備是一種高性能的自動光學檢測系統，旨在檢測和分析半導體器件結構中的缺陷。該裝置利用最新的創新成像光學技術和精確運動控制，在任何工藝幾何上提供最佳的缺陷檢測和精度。LEICA MIS 200通過動態圖像處理提供了對特征和模式識別的深入分析。該機器采用模塊化設計,可提供多種擴展選項,包括增強的成像系統、光束操作系統、自動計量和用於高級缺陷映射的外圍設備。它還包括一個提供照明波長、放大倍率和其他工具設置選擇的自定義軟件包。檢測設備包括專利檢測階段，提供精確的運動控制和高精度的缺陷分離能力。該模型具有較大的視場,可以在單個視場中捕獲多個設備,從而最大化吞吐量並最小化操作員時間。它利用高速像素移位來最小化運動模糊,從而能夠準確檢測整個視場中的關鍵缺陷。VISTEC MIS 200包括一個先進的照明設備，提供在缺陷檢測的極限能力。結合獨特的動態圖像處理,提供了卓越的缺陷表征和分類.它利用漸進強度掃描，能夠檢測模式缺陷以及隨機缺陷，從而更好地了解設備特性。該系統還提供了一個強大的缺陷分類引擎，可以自動對缺陷進行分組和分類，以便進一步審查和分析。此自動化過程可提高缺陷可見性,並提高設備吞吐量和準確性。此外，直觀的用戶界面提供了程序設置和參數的輕松訪問和修改。LEICA檢測機非常適合半導體器件制造商，從小型制造實驗室到大批量生產設置。該工具在手動和自動化過程中確保可靠的操作和更高的準確性。利用先進的成像和精確的運動控制，為檢測和分析器件結構缺陷提供了有效的解決方案。