二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9287263 待售
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LEICA/VISTEC MIS 200是來自LEICA系列檢測工具的掩模和晶圓檢測設備。該系統提供自動檢查、光學可變微觀成像和缺陷移動窗口檢查的組合，以快速識別掩模和晶片中的缺陷。該設備提供高分辨率、多個放大倍數和快速重建時間,使用戶能夠快速準確識別缺陷和潛在問題。該機器采用不相幹閃光燈照明，具有獨特的光片設計，可確保整個掩模或晶片均勻照明。這樣可以確保所有點均勻且照明均勻,並提供高精度和高精度的結果。LEICA MIS 200還允許實時視頻檢查、線路掃描、背面計量等多種多維、多層次的成像模式。通過利用這些特征，用戶可以快速分析蒙版或晶片上的復雜特征，如接觸孔、線條定義、線條寬度以及線條之間的空格。VISTEC MIS 200的自動化分析工具允許對缺陷進行自動識別和分類,用戶可以從中了解其可能的原因。此外,該工具還能夠自動測量缺陷的線寬和間距、深度和圓度,從而獲得更準確的結果。此外，資產可以對掩模和晶圓進行詳細的比較，以確定兩者之間的任何差異。最後，該模型還提供了一個強大的缺陷診斷應用，可以檢測和分類模式和異常。這是一個非常有用的工具,因為它可以幫助用戶識別可能幹擾生產過程的結構缺陷和任何其他問題。此外，MIS 200還提供了光譜光學計量學設備，可以測量線定義和掩模或晶圓光學特性的波動等特征。總體而言,LEICA/VISTEC MIS 200是一個功能極其強大的掩碼和晶片檢查系統,用戶可以快速準確地分析掩碼和晶片的缺陷。該單元提供了自動化檢測、光學可變微觀成像和缺陷移動窗口檢測的組合，以及一系列多維和多級成像模式和強大的缺陷診斷應用。因此，該機器對於快速準確地查明口罩和晶片上的缺陷和潛在問題極為有用。
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