二手 LEITZ Ergolux #118783 待售
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ID: 118783
Microscope
NPL Objectives: 10x, 20x, & 50x brightfield-darkfield
Brightfield & darkfield
Stand
Brightfield-darkfield vertical illuminator
Ergonomic tilting binocular eyepiece tube with periplan 10x widefield high-eyepoint Adjustable eyepiece pair
Motorized nosepiece with rocker-switch control
12 Volt / 100 Watt Model halogen illuminator.
LEITZ Ergolux是一種最先進的精密掩模和晶片檢驗設備,旨在識別和解決半導體制造過程中與質量相關的問題,然後再進行昂貴的返工和浪費時間。該系統的精密願景和自動化解決方案旨在最大限度地提高總體質量保證過程的有效性,從而降低每檢查晶圓的總體成本。Ergolux為用戶提供了一系列高級功能,從對粗糙功能的自動3D檢查到對精細和復雜功能的全面2D檢查。該設備能夠捕獲掩模和晶片的二維拓撲,可以準確檢測以前光刻曝光層的圖樣或結構中的錯誤。它也可用於檢測t-top結構、體積缺陷、蝕刻缺陷等非陣列特征的存在以及其他異常。機器采用6軸多傳感器零件對準工具,該工具結合了視覺和強制位移技術,以確保整個過程中零件的精確對準。此資產允許個人在模型的視場中快速準確地對齊晶圓或掩碼,從而消除了手動對齊中固有的潛在錯誤。LEITZ Ergolux還擁有強大的照明和成像能力。該設備提供各種不同的光源,以確保精確的n維成像,並能夠進行精確的測量和評估。此外,Ergolux還為用戶提供了多種鏡頭選項,使他們能夠根據自己的特定成像和分析要求選擇最佳選項。此外,該系統還提供了多種可選的基於電子設備的模塊和升級軟件包,以擴展設備的功能,例如針對更大的掩碼芯片的增強檢測算法,以及先進的缺陷審查和報告機器。這為用戶提供了自定義工具的靈活性,以滿足其制造和檢查過程的確切需求。最後,LEITZ Ergolux為用戶提供了一個直觀的圖形用戶界面,用於管理掩碼和晶圓檢查的復雜而精細的任務。這使得用戶更容易配置資產設置、查看檢查結果以及查看、分析和解釋其檢查產生的數據。綜上所述,Ergolux是一種功能強大且用途廣泛的掩模和晶圓檢驗模型,能夠為用戶提供廣泛的工具和功能,以便快速準確地識別和解決半導體制造過程中與質量相關的問題。
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