二手 MATSUSHITA M777 #9329275 待售

MATSUSHITA M777 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種高精度的光機械計量儀器，專為檢查半導體晶圓和光掩模而設計。它使用半英寸的遠心鏡頭對目標樣本進行成像，分辨率為1微米或更高。樣品表面的圖像以多個離軸放大倍數拍攝，從而能夠進行全面的表面檢查和分析。M777采用多種光學成像技術來執行其檢查過程，如激光幹涉測量、消色差成像和相位測量。這允許對晶片表面進行高分辨率分析,從而能夠精確測量特征大小、表面特征和顆粒汙染。該系統配備了一個自給自足的自校準單元，可以讓測得的結果重復性超過10納米。該機器具有晶圓映射功能，允許在晶圓檢查過程中跟蹤晶圓。此外,可以將缺陷數據庫編程到MATSUSHITA M 777中,以跟蹤缺陷區域,以便以後進行審查和鑒定。該工具能夠捕獲極其精細的表面細節，例如芯片拓撲和特征放置，以及太小而無法在顯微鏡中解析的特征。這使得能夠分析分辨率小於一納米的高精度晶圓結構。M777資產還設計了安全功能，以保護用戶和儀器本身。它具有ESD保護的內部環境和內置的反射/非反射門設計，以防止光線離開檢查區域。它還具有專用的冷卻電路,在操作過程中可防止模型過熱。MATSUSHITA M777設備是一種用於檢查半導體晶片和掩模的真正出色的計量儀器。它的光學成像技術允許在表面分析中獲得最高的精確度,其內置的安全功能在運行過程中提供了更強的保護。M777 Mask&Wafer Inspection System憑借其易用性和卓越的性能，是先進半導體計量的絕佳選擇。