二手 MATSUSHITA PSX307-M #9394953 待售

MATSUSHITA PSX307-M Mask&Wafer Inspection Equipment是一種先進、高性能的半導體Mask和大尺寸晶片缺陷檢測系統。該裝置利用先進的光學雙金字塔偏轉測量技術，精確測量每個半導體器件的形狀和表面，從而能夠檢測關鍵缺陷及其精確位置。機載高分辨率相機與機器集成在一起,用於捕獲被檢查的晶片或掩模的圖像,而卓越的成像能力甚至可以檢查最精細的細節。該工具還利用先進的三維光學傳感技術（3D&OS）進行全面的缺陷發現和測量。利用這項先進的資產，可以檢測晶圓和掩模上的小缺陷，以及精確測量表面形狀、高度和其他物理特性。這些數據可用於測量設備的大小和形狀,以確保精確的質量控制。PSX307-M配有內置的自動對準功能,與3D&OS模型一致,可以精確檢查缺陷。這種自動對準功能允許檢測微小缺陷，即使在大型晶片中也是如此。此外，該設備還配備了先進的圖像分析工具（MATMESH），可實時消除缺陷，進行高效缺陷檢測。MATSUSHITA PSX307-M還具有多種用戶友好的菜單和功能,可以輕松執行操作。該系統配備了手動操作模式以及自動操作模式，使操作能夠根據用戶需求量身定制。此外，各種編程語言的支持允許用戶針對特定需求開發自定義檢查程序。綜上所述，PSX307-M Mask&Wafer Inspection Unit是一種先進的高性能機器，用於半導體Mask和大尺寸Wafer的缺陷檢測。該工具利用先進的光學和三維傳感技術，能夠高精度地檢測微小缺陷，而其內置的自動對準和圖像分析功能有助於進一步提高操作效率。MATSUSHITA PSX307-M具有多種用戶友好的菜單和功能,是自動掩模和晶圓檢測的絕佳選擇。