二手 MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9124645 待售

MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR
ID: 9124645
晶圓大小: 8"
Wafer inspection system, 8".
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR是一種掩模和晶片檢測設備,它從一個易於使用的平臺提供先進的無損晶片和掩模檢測功能。該系統旨在對成像設備進行高效可靠的表征,包括復雜的彩色濾光片陣列、透明的導電氧化物和多層背板。DDR-300 NIR利用高清直接成像和斑點成像算法提供準確可靠的性能。該平臺配備了高分辨率光電子、UV-Vis-NIR探測器和具有高速專有數據處理能力的高速相機。該單元還具有多維顯微鏡,能夠快速粗糙和精細的聚焦掃描。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR憑借其先進的強度特性,能夠可靠地檢測和測量晶圓和掩模缺陷,使用戶能夠快速識別材料上可靠的模具區域。同時,該機先進的芯片組計算能力使其成為監控掩模和晶圓制造過程的理想選擇。通過其先進的軟件算法,DDR-300 NIR能夠更好地檢測缺陷,從而提高精度和效率。它還擁有一個用於精確繪制晶圓和掩模輪廓的弱光成像工具,以及一個用於對圖樣黃色材料和復雜底板結構進行詳細檢查和制圖的高動態範圍成像資產。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR也易於設置,並且需要最少的維護,因此非常適合繁忙的制造和研究設施。此外,還可以將平臺與客戶現有的測量或自動化設備集成在一起,以便於在整個流程鏈中收集數據。DDR-300 NIR具有先進的特點和可靠的性能,是精確晶片和掩模檢測的理想工具。
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