二手 MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9180196 待售

ID: 9180196
SWIR Inspection system, 12" Defect detection Single cassette 8” Wafer loader / Unloader with (4) axis robot Pre-aligner Wafer cassette mapping Under / Over OCR cameras Objectives: 5x, 10x, 20x, 50x camera sensor In-GaAs: 900nm - 1700nm sensitivity inspection Analysis: Bonded wafer alignment Die alignment (flip-chip or hybridization) Subsurface, defect visualization, detection Characterization: MEMS Device Inspection and metrology: 3D Stacking Process development and control: Integrated CD / Dimensional metrology Application-specific customization software: Semi standard S2/S8.
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR是一種面膜和晶片檢查設備,可自動檢查晶片和面膜。它采用最先進的系統設計,針對生產應用進行了優化。DDR-300 NIR的心臟是一個先進的高速相機,記錄通過晶圓或掩模的紅外光。這個先進的成像單元快速掃描設備上的圖樣,然後將其與已知的圖樣進行比較,以檢測圖樣結構或特征中的異常。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR可以檢查晶片和掩模。通過晶片檢查,機器對晶片的表面均勻性和結構進行非接觸式檢查。在面罩檢查中,該工具利用其紅外受體捕獲並逐層比較圖樣與設計的原始圖樣,有效識別差異。DDR-300 NIR具有幾個附加功能來優化缺陷檢測。資產利用先進的算法和圖像處理技術,準確檢測和區分幾乎不可察覺的缺陷,減少檢查時間,提供更高精度的結果。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR支持多種晶圓攝影格式,可以自動檢測和調整所需的參數。圖像采集過程快速高效,生產周期快速可靠。NIR上DDR-300用戶友好界面包括直觀的觸摸菜單導航和自定義可以快速設置的命令。該模型還在其SD存儲卡上自動保存測試數據和測量圖像,從而可以快速檢索數據以進行審查和分析。該設備還具有I/O主板和液晶觸摸屏,允許系統與客戶端之間快速通信,以便進行快速現場更新。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR Mask&Wafer Inspection Unit設計用於快速、可靠和經濟高效的過程控制。該機符合所有行業安全和質量標準,為生產線質量控制提供了高效解決方案。憑借其先進的成像功能、精確的缺陷檢測、直觀的用戶界面以及廣泛支持的晶圓攝影格式,DDR-300 NIR是任何生產線必不可少的工具。
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