二手 MCBAIN Z-Scope #9276209 待售

MCBAIN Z-Scope是一種先進的掩模和晶圓檢測系統，旨在滿足半導體行業的嚴格要求。其先進的能力包括自動晶圓和掩模檢查，視覺檢查和高度測量，以及對顯微鏡參數的完全控制，包括焦點和照明器類型。Z-Scope具有獨特的組合：高速電動X-Y-Z級、帶有可調變焦鏡頭的高分辨率CCD（電荷耦合設備）相機、高度可靠的集成硬件和軟件、大型13英寸液晶觸摸屏顯示器和專有軟件套件。電動級允許顯微鏡通過掩模或晶片快速準確地移動。高精度CCD相機和可調變焦鏡頭，使高分辨率視圖的設備被調查。集成的硬件和軟件允許用戶精確控制顯微鏡的參數，為用戶提供檢測面罩或晶片上極小的差異或缺陷區域的能力。大型13英寸液晶觸摸屏顯示器允許對正在調查的設備進行大視圖。專有軟件套件允許各種測量和分析功能,包括數據的完全可視化、數據集比較和直觀的用戶界面。MCBAIN Z-Scope在晶圓和掩模檢查方面提供了可靠和準確的結果,並提供了易於使用和直觀的軟件套件。系統的可靠和高性能功能使用戶能夠快速準確地發現缺陷或差異,從而提高生產時間並提高總體吞吐量。它能夠非常精確地檢查晶片和口罩，確保了產品質量的保持。