二手 MEISHO NM-0402 #9078486 待售

MEISHO NM-0402
ID: 9078486
Nano-imprint system.
MEISHO NM-0402是為提高效率和性能而設計的面罩和晶圓檢測設備。它具有先進的光學系統和傳感器頭配置,為像素級比較和缺陷檢測提供高分辨率圖像。該單元還能夠自動分析復雜缺陷的光學圖樣。 光學機器包括安裝在垂直線性驅動器上的一對前遠心目標,內建焦點伺服,不斷調整光學器件的焦點,以保持圖像銳利一致。鏡頭工具提供寬視野,最大分辨率為4.5µm,1倍視野覆蓋面積10 x 10cm。該資產還具有可變波長範圍,從400到1100 nm,適用於各種應用。NM-0402配有光源,用於明場、暗場和光學對比度成像。此外,它還能夠以高達4k x 4K像素的速度進行高速掃描,並具有精確的掃描速率和曝光參數控制,以加快檢查時間。MEISHO NM-0402集成了具有模式識別和缺陷檢測功能的復雜圖像處理模型。它能夠檢測到從廣域不均勻和汙染到直線/邊緣缺陷和顆粒到10nm的各種缺陷。它還具有用於存儲和管理圖像數據的內部數據庫。NM-0402可用於晶片檢查、晶片圖樣缺陷檢測、光學質量和汙染以及口罩的檢查和計量。它還兼容多種數據格式,方便地集成到現有系統中。綜上所述,MEISHO NM-0402是一款高效、功能強大的掩模和晶圓檢測設備,配備先進的光學器件、精密的圖像處理系統和數據庫管理單元。它可用於廣泛的應用,並且易於集成到現有系統中。
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