二手 METRICON 2010/M #293767526 待售

METRICON 2010/M是一種功能強大的晶圓和掩模檢測設備,旨在為要求苛刻的晶圓和掩模提供高通量和高分辨率的能力。該系統利用先進的圖像處理和成像技術來檢查晶圓和掩模模式以及亞像素級的缺陷。它具有一個大的和分辨率豐富的成像單元與一個二維圖像傳感器的高吞吐量和精度在所有的目的。它配有光學器件和雙光束模式比較器，用於比較多種模式的一致性和缺陷。此外,它的專有成像軟件優化了圖像處理和特征提取的速度和準確性,允許為特定的晶片或掩碼創建定制的檢查方法。該機器的模塊化設計也提供了靈活性，允許調整配置以適應工藝要求。它的軟件體系結構是模塊化和高度並行化的，可以有效地控制檢查順序或流程，從而提高吞吐量。此外,它還支持一系列設備,包括非陣列晶片、具有復雜幾何形狀的掩碼和光柵結構。此外，METRICON 2010/M包括綜合操作和測試控制，以提高準確性和跟蹤結果。這樣可以確保記錄和監控所有過程和檢查參數,如扇出和層時間,以確保可靠性和改進的過程控制。該工具還包括易於操作的圖形用戶界面控件，並且可以鏈接到圖像檢查環境。METRICON 2010/M是檢測和測試高度復雜的晶圓和掩模模式的絕佳工具。與其他系統相比,它為用戶提供了卓越的圖像分辨率,在配置、集成操作和測試控制方面都具有出色的靈活性和控制能力。這些功能允許改進過程控制、改進缺陷檢測和提高產量。因此，它非常適合晶圓和掩模結構的自動化和精確檢查。