二手 METRICON 2010/M #80299 待售

METRICON 2010/M
ID: 80299
Prism Coupler Prism Laser: 635nm Dell Optiplex PC: 2GB RAM, 250GB hard disk, 16X DVD-ROM, 19" LCD monitor, Windows7 Compatible with XP/Vista/7 with a serial interface box 2010-NSW-1550: provides operation at additional wavelength of 1550 nm Options: (1) or (2) TM Option for laser(s).
METRICON 2010/M Mask and Wafer Inspection設備是一種自動化的高精度光學檢查和測量工具,用於關鍵的集成電路生產。該系統在一個綜合單元中結合了三個專門儀器,用於檢查和測量掩模和晶片材料。這允許通過自動可視化、靈活測試和通過/失敗分類來評估晶圓特性。METRICON 2010/M包括一個用於晶圓缺陷檢測的XY級和兩個用於測量掩模形狀和輪廓的光學儀器。XY級驅動二維掃描平臺,使機器能夠同時捕獲掩碼或晶片的頂視圖和橫截面圖像。光學儀器包括一個散射儀,用於測量掩模的光學散射特性,以及掃描電子顯微鏡(SEM)。SEM用於分析掩碼的結構和特性,提供非常適合3D成像的高分辨率圖像。除了這兩種儀器外,METRICON 2010/M工具還包括一個3D級,用於獲取掩模或晶片的高度和形狀的測量值。這是利用激光光束完成的,激光光束掃描表面,並用於構造所討論對象的3D圖像。最後,METRICON 2010/M資產還包括許多軟件組件,用於自動獲取數據以進行分析。該軟件包括可快速分析數據的統計模型,以及用於從為檢查過程獲取的大量數據中提取信息的數據挖掘模塊。METRICON 2010/M模型是用於掩模和晶圓檢查的強大工具,在評估特征時提供高精度和準確性。與手動檢查方法相比,利用這些工具可以縮短測試周期並提高成本效益。該設備被領先的半導體公司用於生產集成電路,用於質量控制和過程監測。
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