二手 METRICON 2010 #9383448 待售

METRICON 2010是一種掩模和晶圓檢測設備，常用於半導體生產、計量和缺陷分析。該系統能夠使用獨特的折射傾斜檢測技術對直徑200、300和450毫米的晶片等大型基材進行檢查，從而使其能夠同時覆蓋整個晶片。檢查單元包括一個集成的矩陣照明模塊，可提供整個視野的照明均勻性。這使機器能夠以高靈敏度和高質量檢測缺陷。檢查工具由高分辨率相機、光源和光學器件以及模式識別軟件組成。模式識別軟件允許檢查資產準確識別和分類與模式設計相關的缺陷，而不是僅僅專註於缺陷本地化。軟件還提供自動模式匹配以及手動掃描選項。2010還包括一個全面的圖像處理包,可以將幾何或缺陷區域與背景隔離。這使模型能夠分析樣品上的特定區域並準確識別否則人眼無法檢測到的缺陷。圖像處理軟件包包括幾種圖像處理工具，如二元化、平滑和不共享掩碼。設備本身由高度先進和直觀的圖形用戶界面（GUI）控制。GUI具有用戶友好的菜單和簡單的拖放功能,非常易於操作。此外,還可以構建可定制的模板和宏,以簡化重復任務,並允許用戶自定義諸如檢查條件、蒙版設計規則和圖像處理技術等參數。總體而言，METRICON 2010是一個先進的系統，配備了先進的光學和圖像處理，自動化和友好的GUI。它的高分辨率相機、模式識別軟件和圖像處理包使它成為一個功能強大但成本效益高的掩模和晶圓應用檢查單元。