二手 METRICON PC 2010 #9112670 待售

METRICON PC 2010是使用專利技術對半導體工業中的蒙版和晶片進行檢測的蒙版和晶片檢測設備。該系統是一個直接檢測單元，利用激光幹涉測量和數字成像在傳統檢測系統的一小部分時間內提供準確可靠的結果。METRICON PC-2010是一種高效、全自動的檢測機,它可以在短短幾分鐘內處理整個掩模或晶片,從而顯著減少人工檢查的時間、成本和復雜性。該工具可以檢測到口罩和晶片上的小缺陷，分辨率為0.3微米，小於口罩和晶片上典型缺陷的三分之一。它結合了先進的激光技術和高分辨率的數字成像來檢查掩模或晶圓的每一個表面到一個像素。這使它能夠檢測和分類表面特征,包括劃痕、凹坑、顛簸和其他不規則性。資產還使用專有軟件快速準確地處理圖像數據，使其能夠以比傳統檢測系統快10倍的速度檢測缺陷。軟件還具有自動缺陷識別和分類功能，最大限度地減少了對缺陷進行人工分析的需要。該模型還具有用戶友好的功能，如直觀的圖形用戶界面，以及廣泛的數據輸出格式，允許用戶自定義結果的呈現。除了效率和準確性之外,PC 2010還設計了易於使用和最小的維護。它不需要特殊的設置工具，操作直觀直觀。該設備還包括一個內置的測試模式庫，可用於快速準確地分類缺陷。總之，PC-2010是一個強大而可靠的掩模和晶片檢驗系統，能夠以高效和經濟高效的方式處理大量的掩模和晶片。憑借其先進的激光和數字成像技術、高分辨率檢測、直觀的圖形用戶界面，METRICON PC 2010是半導體行業檢驗掩模和晶片的理想單元。