二手 METRICON PC 2010 #9244730 待售
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單擊可縮放
ID: 9244730
優質的: 2000
Prism coupler
Wafer measurement: Refractive index
Thickness: Thin films layer stack
Dual film measurements
Localization of modes in waveguides
Measurable refractive index: 2.45
Operating wavelength: 632.8 nm, 1320 nm & 1554 nm
2000 vintage.
METRICON PC 2010是一個自動化的蒙版和晶圓檢查設備，設計用於檢查高分辨率的光刻圖像。該系統能夠在掃描晶片時近乎實時地檢測異常和其他缺陷。PC版本由於成本低，而且能夠快速檢測到各種各樣的缺陷，因此在系列中最受歡迎。該單元的PC版本使用基於度量的掃描軟件高速捕獲晶圓的圖像。這些圖像是在3微米處拍攝的，允許識別甚至是最小的異常。軟件還考慮到它所處的環境，以幫助確保準確的結果。該機器能夠檢測各種晶片缺陷，包括劃痕、凹坑、顛簸和異物。它還可以檢測低壓信號，使工具能夠檢測可能導致芯片故障的問題。該資產除了具有高速度和精確度外,還具有低功耗的特點。這有助於降低運營成本,同時確保模型能夠連續運行而不會中斷。該設備設計得極其可靠，具有長期性能。它還具有直觀的用戶界面，讓即使是最新手的用戶也能在不占用太多時間的情況下迅速習慣系統。該單元的設計是為了與各種其他行業標準技術和軟件包兼容，從而實現更大的可及性和更容易的集成。總體而言，METRICON PC-2010是檢查先進平版圖像的重要工具，提供快速和準確的結果。由於成本低、性能高，已成為口罩和晶圓檢測的行業標準。
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