二手 METRICON PC 2010 #9245359 待售

METRICON PC 2010是由德國公司METRICON開發的掩模和晶圓檢驗設備。設計用於高精度檢查標線、晶片或其他平面掩模，該系統可檢測出汙染、針孔、空隙、汙漬、碎屑等細微缺陷。該單元配備了高分辨率和對比度的先進光學機器，提供卓越的成像性能。用於該工具的LED光源提供均勻穩定的照明,精度極佳。內置顯示器提供易於使用的圖形界面,並且多反射檢測可確保高效和高效。METRICON PC-2010與各種數據分析軟件程序兼容。這些程序可以檢測各種缺陷類型,包括汙垢和塵埃顆粒、劃痕、汙染、針孔、空隙、汙漬、薄片以及厚度或外觀的不規則性。資產還可以檢查對齊標記中的錯誤對齊。PC 2010還配備了多種電氣、機械、運動控制功能，適合高速、精確的掃描。該模型旨在減少操作員疲勞並提高效率。它還支持用於處理和評估結果的標準信令邏輯。設備可以擴展到包括新的功能，如測量色度坐標值的能力、點表掃描、高級模式識別，或用於機器人技術的特殊數據輸出。此外,PC-2010可用於手動或自動分類系統。該系統非常適合應對科學和工業挑戰。它可以提供有關掩模光學特性的信息，並提供半導體器件質量或顆粒汙染的結果。它還提供了詳細的圖像分析的可能性，並且可以作為進一步的單元設計的基礎。