二手 MOLECULAR IMPRINTS Imprio 55 SFIL #9037906 待售

Imprio 55 SFIL是一種使用掃描電子顯微鏡（SEM）提供亞微米級缺陷檢測精度的掩模和晶圓檢測設備。它旨在檢查剛性和彈性可變形基板上的預制圖案層和裝置遮罩層。該系統提供自動化的無損成像，在晶圓級具有無與倫比的分辨率，從而能夠在傳統成像和光譜模式下準確識別和表征缺陷。Imprio 55包括一個高能SEM電子源，能夠產生高達6 keV的束能。這為各種缺陷相關分析提供了更高的靈敏度，同時減少了整體顆粒/斑點大小。Imprio 55的像素速率高達每秒120萬，允許在表面和橫截面模式下快速累積圖像和數據。Imprio 55的先進光學和成像能力將其與其他掩模和晶圓檢查系統區分開來。例如，它提供了高度先進的虛擬低噪聲成像，利用多個單色電子源和增強的極化。這給了它一個很好的分辨率和更精確的對比查明缺陷，無論其大小或位置在晶圓上。此外,Imprio 55獨特的掃描控制功能使用戶能夠配置其設備以進行單站點或多站點檢查。這樣就不需要手動調整以實現所需的成像和缺陷檢測功能。Imprio還包括自動模式識別技術,與手動技術相比,可實現更清晰、更快速的成像。結合其遠程控制功能,Imprio 55使用戶能夠在遠離機器的情況下監視操作。它還具有自動化的過程監測，可用於生產線監督和過程控制。最後,該工具附帶了一系列功能強大的軟件工具和功能,包括3D圖像分析、直方圖分析和特征識別。Imprio 55 SFIL from MOLECULAR IMPRINTS是一種可靠而強大的掩模和晶圓檢測資產，旨在高精度檢測和表征亞微米級缺陷。其先進的成像元件和自動化特性使其成為傳統和可變形基板上生產線監控、過程控制和缺陷分析的理想工具。