二手 NANOMETRICS 210 XP #9185099 待售

NANOMETRICS 210 XP是一種高性能、自動化的掩模和晶片檢查設備,可實現手動和自動化缺陷審查以及缺陷的快速分類。它提供了一個有效的解決方案,以幫助確定由工藝變化引起的潛在產量限制缺陷。NANOMETRICS 210XP將自動缺陷識別與圖像分析相結合,以快速識別、分析和分類缺陷,從而顯著縮短掩碼和晶圓產量的周期時間。其專有的圖像識別軟件、高分辨率成像系統和全面的檢查規則為快速準確的缺陷識別提供了關鍵數據。210 XP結合了一套功能強大的軟件工具,包括缺陷跟蹤、圖像分析和診斷。它的自動缺陷識別過程旨在快速識別潛在的產量限制缺陷,並根據類型、大小和形狀對其進行分類。軟件還為操作員提供了有關掩模和晶片布局的詳細信息，並提供了對掩模或晶片中所有缺陷的全面總結。該設備的光學機器還配備了高性能的Abbe共聚焦輪廓檢測器，為用戶提供亞微米級分辨率，以及晶圓補償階段和視野，使用戶能夠同時查看整個晶圓。它為用戶提供靈活的成像模式，允許檢查各種結構，如模具、selvedge、顛簸和針孔。210XP為用戶提供了對檢查過程的特殊控制和靈活性。它可調的圖像審閱參數使操作員能夠輕松地將工具設置為滿足其特定要求，資產的用戶友好界面簡化了數據審閱過程。NANOMETRICS 210 XP非常適合需要自動缺陷檢測和分類的半導體制造商和研發設施。它為尋求更高檢驗和收益率的行業提供了可靠、高效的檢驗和缺陷管理解決方案。