二手 NANOMETRICS 4150 #9188635 待售

NANOMETRICS 4150是一種最先進的掩模和晶圓檢測設備，設計用於識別和分析半導體材料中的缺陷、汙染物和非均勻性。該系統提供了增強的性能和創新功能，便於在骰子和蝕刻後快速、方便地監測口罩和晶片的質量。該裝置采用獨特的雙法菲爾德幹涉儀（DualFarfield Interferometer, DFI），在幹涉儀的腔內結合了兩束激光束。兩個激光束沿著兩個線性軸對齊，提供掩模或晶圓的3D圖像。機器分析產生的圖像，檢測甚至在形狀、大小和位置上的微小變化。4150工具使用其強大的軟件，可以將當前晶圓或掩碼與存儲的參考進行比較，尋找任何汙染物、鋒利的邊緣、裂紋和其他缺陷。資產還利用模式識別算法來分析和計算參考與當前模式之間的確切相關性。同時，先進的噪聲過濾工具采用統計方法來降低噪聲，如熱漂移和電子噪聲。該模型直觀的用戶界面允許用戶輕松掃描掩碼或晶片並實時檢查結果。此外，該設備還提供一系列兼容的附件，便於精確的圖像采集和高效的數據分析。這些包括高分辨率透鏡、晶片卡口框架、自動表面板等等。NANOMETRICS 4150除了具有令人印象深刻的硬件和強大的軟件外,還包含用戶友好的文檔,使用戶可以輕松了解系統的功能並快速熟練掌握。憑借最佳的人體工程學和可靠的結果,4150是一個頂級設備,使用戶能夠確保精確的質量控制並確保最佳的設備產量。