二手 NANOMETRICS 7000-0435 #9292308 待售

NANOMETRICS 7000-0435 Mask&Wafer Inspection equipment是一種精密的機器,設計用於測量單個晶圓和Mask上集成電路的光學特性。該系統背後的技術提供高精度測量,具有快速的吞吐量和完整、全面的測量功能。7000-0435檢測儀具有高分辨率雙CCD攝像頭,為各種測量程序（如叠加和CD計量）提供了必要的精度。用戶友好的基於Windows的界面允許快速調整操作，允許快速處理晶片，而機器的模塊化設計使得重新配置變得簡單。NANOMETRICS 7000-0435還包括兩個主要光頭：一個具有自動對焦功能的低倍率光頭，用於一般缺陷檢測；一個帶有電動變焦鏡頭的高倍率光頭。可以將高放大倍率磁頭設置為不同的級別,從而可以測量尺寸不超過10nm的受試者。與工具捆綁在一起的軟件包包括各種程序，設計用於檢測集成電路上可能存在的各種類型的缺陷。提供的缺陷檢查包括：線緣粗糙度、點對點配準、平整度、散焦/模糊檢測、透鏡散光、舞臺漂移和機器視覺縫合。此外,軟件還包含圖形顯示,允許用戶可視化檢查過程的結果。7000-0435 Mask&Wafer Inspection資產是任何需要可靠、準確的工具來測量和確保集成電路質量的電子生產設施的理想解決方案。此模型將以極好的準確性提供快速的結果,消除可能減慢生產速度的代價高昂的錯誤。此外，該設備用戶友好，易於配置，使得重新配置快速和簡單。