二手 NANOMETRICS 8000XSE #293743932 待售

NANOMETRICS 8000XSE
ID: 293743932
Thickness measurement system.
NANOMETRICS 8000XSE是一種掩模和晶圓檢測設備,設計用於提供高精度的納米級成像和測量能力。該系統利用像素內綁定、大像素綁定、分割和超采樣技術,實現了前所未有的數據精度。它配備了先進的自動化校準和易於使用的圖形用戶界面,允許快速準確的圖像分析。該單元由一個光學模塊、一個z-stage和一個帶有集成遠心鏡頭的掃描頭組成。光學模塊能夠提供從幾納米到數百納米的高分辨率成像,具體取決於應用。掃描頭由可旋轉軸和線性軸構成,為成像、測量和控制提供亞微米級的精度。此外,z-stage為精細特征的準確識別和分析提供了平臺。NANOMETRICS 8000 XSE允許對各種基板上的圖樣結構進行非接觸測量。使用精細圖像分辨率時,此機器允許將缺陷測量範圍降低到10 nm以下。當與表面剖面儀集成時,該工具還可以提供有關寬結構的詳細表面信息,並提供更好的信噪比。該資產能夠進行若幹納米級的檢查和測量應用。這包括模式識別、光學檢查、覆蓋或配準、X射線衍射(XRD)或電子顯微鏡(EM),以及其他計量和檢查任務。此外,它還可以使模式特征的采集和分析自動化,從而實現高效和具有成本效益的納米級檢查。該模型還可用於粒徑測量和化學分析。8000XSE還允許大場成像和測量。使用這種設備,用戶可以在不犧牲單個特征的準確性和分辨率的情況下檢查整個晶片。此外,它的成像軟件還支持3D模型的分析,包括橫截面圖像的測量,從而可以更深入地了解陣列細節。此外,可以將此系統中的數據導入計算機輔助設計(CAD)程序。總體而言,8000 XSE是一個高度先進和可靠的掩模和晶圓檢測單元,提供一系列的檢測、測量和分析能力。這臺機器支持非接觸式納米級檢查和高效的自動化分析功能,這對於高級研究和工業應用至關重要。
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