二手 NANOMETRICS 8300X #9219449 待售

ID: 9219449
Film thickness analyzer Wafer P/N: 7000-0519 7200-2161 7200-2193 J.A. WOOLLAM LPS-400 J.A. WOOLLAM M-44 KENSINGTON 25-3700-1125-04 Robot TOSHIBA 1500 Series.
NANOMETRICS 8300X是由NANOMETRICS Incorporation開發的突破性掩模和晶圓檢測系統.這種最先進的系統能夠高精度地檢查各種掩模和晶片特性。它為創造性的過程和產品開發應用程序提供最高級別的靈敏度、細節和分辨率。8300X設計具有高度靈活的體系結構,可以根據檢查過程的需要進行調整。其模塊化掃描儀可配置用於各種掩模和晶片類型,如背面蒙皮和濺射晶片。NANOMETRICS 8300X具有先進的特征檢測技術,使其能夠輕松檢測和隔離復雜的形狀和圖案。利用包括熒光、紫外線成像和標準成像在內的多光譜成像技術,8300X能夠檢查各種特征。其光譜成像技術允許尋路和特征檢測,這對於成功的設計驗證應用至關重要。它還提供了對線、矩形、圓等基本結構的精確測量。此外,NANOMETRICS 8300X還配備了多種功能強大的軟件工具,用於過程控制、缺陷分析和報告。其過程控制功能包括自動缺陷分類、自動線寬測量、分級分析等。對於詳細的缺陷分析,8300X有一套缺陷分析工具,包括粒子跟蹤、特征大小分析和缺陷定位工具。最後,NANOMETRICS 8300X提供了全面的報告功能,使用戶能夠快速總結和可視化其掩碼和晶圓檢查過程的結果。總體而言,8300X為檢查掩模和晶片特性提供了高水平的靈敏度、分辨率和準確性。憑借其先進的功能、缺陷和過程控制工具,以及全面的報告功能,它為生產性能評估、過程優化和快速設計驗證提供了完美的解決方案。
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