二手 NANOMETRICS AFT 210 #9083845 待售

NANOMETRICS AFT 210是一種先進的晶圓和掩模檢測設備，設計用於檢測和測量制造過程中的缺陷。該系統具有較大的工作區和局部控制計算機，是半導體器件制造的理想選擇。AFT 210配備了先進的多點工具，一次最多可測量8個掩碼級別。可以根據不同的檢查參數調整每個掩碼級別。這使設備能夠檢測從小汙染物到大表面不規則的各種缺陷。NANOMETRICS AFT 210還利用一臺水平光學機器來減少誤報量。該工具能夠分析來自掩模的圖像以及樣品晶片。此外，資產提供了有關檢查過程狀態的實時數據，使操作員更容易監控性能。為了最大限度地收集數據,AFT 210的檢查模型包括一個自動化的3D成像設備。該系統使檢查過程更加準確，產生更好的結果。此外,3 D成像單元允許機器檢測極端詳細的缺陷,從而使操作員能夠更好地識別和測量缺陷。NANOMETRICS AFT 210還有一個自動缺陷審查工具。此資產允許操作員從掩碼檢查中快速查找和查看缺陷圖像。審閱模型還能夠比較來自多個晶片的結果，從而更容易快速檢測可能發生的任何進程不一致。總而言之，AFT 210是一種極其精確和堅固的晶圓和掩模檢測設備。它能夠對口罩和晶片進行高度詳細的檢查，甚至檢測到最小的缺陷。該系統還能夠實時跟蹤檢查過程並進行自動缺陷審查。結合起來，這使得NANOMETRICS AFT 210成為在任何半導體制造過程中確保質量控制的理想工具。