二手 NANOMETRICS AFT 4000 #44869 待售

ID: 44869
Measurement system Standard Film Types Measured Single Layer Films: Visible 500-50,000A; UV 25-500A Double Layer Films: Visible Top Layer 100-30,000A; Bottom Layer 100-10,000A Single Layer Thick Films: Visible 4-75 microns Reflectance: Visible 400-850nm Oxide on Poly: UV 150-10,000A Oxide on Metal: Visable 3,000-20,000A; UV 500-5,000 A.
NANOMETRICS AFT 4000是一種面罩和晶圓檢查設備,設計用於對印刷電路板(PCB)等不透明基板的形狀和尺寸進行可靠、準確和可重復的測量。該系統包括一個全自動的光學和機械掃描階段,一個先進的遠程中心光學單元,以及廣泛的測量和分析軟件工具。AFT 4000利用高分辨率成像來利用明暗場圖像,從而能夠以75 nm的分辨率測量小至15 nm的特征。掃描階段配備了優化的光學器件,可以對不同的特征大小和形狀進行高效的成像和可重復的測量。可選的機械臂允許手動和自動操作樣品。NANOMETRICS AFT 4000利用各種先進技術,如散射法和熒光成像,捕捉目標材料的詳細表示。AFT 4000還允許測量特征邊緣、側壁、臺階高度、輪廓和平整度。此外,機器還可以與信號處理系統連接,以便進行自動精確測量。集成在NANOMETRICS AFT 4000中的數據分析軟件包包括生成3D幾何模型以及導出CAD或測量系統的數據的功能。該軟件還提供了可自定義的報告,包括可以清晰顯示結果的表格和圖像,以及比較來自多個掃描的數據的能力。該工具的總體設計側重於最大限度地減少錯誤並產生可重復的結果。AFT 4000是實驗室、工程師和科研人員的理想選擇,因為它能夠可靠地進行精確的物理測量和可靠的數據分析。該資產使操作員能夠快速獲取有價值的數據點,並在各種基板上生成一系列復雜的圖像和模型。NANOMETRICS AFT 4000具有直觀的用戶界面、先進的測量能力和卓越的精度,是詳細分析掩模和晶圓基板的絕佳選擇。
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