二手 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i #9390851 待售

NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i
ID: 9390851
Overlay measurement systems.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q200i是一種高精度的掩模和晶片檢查設備,旨在檢查直徑不超過200毫米的無缺陷掩模和晶片。由於采用了先進的專有光學設計,該系統提供了卓越的成像功能和最高的空間分辨率。此外,該單元還能夠在非共聚焦成像模式下實現分辨率高達0.7微米的亞微米成像,在共聚焦成像模式下實現0.45微米的共焦掃描頭成像。ACCENT Q200i有許多高分辨率成像工具,設計用於檢查各種類型的掩模特征和晶片。其中包括:遮罩和接觸對準器、晶圓對準、臨界尺寸測量(CDM)工具、光學和電子束圖像放大倍率以及可疑設備分析等。借助自動對焦相機,這臺機器可以利用光學和電子束成像來捕獲微缺陷,而內置的圖像分析工具則可以快速準確地分析缺陷。該資產包括一個復雜的基於視覺的缺陷審查工具和一個100萬像素的CMOS攝像頭,它提供了一個能夠檢測子像素缺陷的圖像處理引擎。該模型還具有內置的數據完整性和比較工具,允許用戶在生產前一直維護無缺陷晶片。該設備可與激光劃線和薄膜切割系統等其他設備集成,以確保準確、可重復的缺陷檢測。BIO-RAD Q200i具有許多前沿功能和優勢,包括全自動機箱、高級映像分析、用戶友好的軟件界面、實時數據查看功能和數據日誌記錄,使用戶能夠輕松瀏覽掩碼和晶片中的缺陷信息,以便將一項工作與另一項工作進行比較。總體而言,NANOMETRICS Q200i是一個出色的掩模和晶圓檢測系統,提供無與倫比的圖像分析能力,準確性和可重復性。該裝置具有快速準確的缺陷檢測特性,是保證生產優質無缺陷掩模和晶片的理想之選。
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