二手 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8 #122833 待售
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ID: 122833
晶圓大小: 8"
優質的: 1998
Overlay metrology tools, 8"
KENSINGTON X,Y,Z Stage
Digital tape drive and 3 1/4 floppy drive
(2) MITSUBISHI Diamond scan monitors
UNIX Operating system
Objectives: 4X, 30X, 70X
Xenon lamp
SECS / GEM Interface
Ethernet connection
1998 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8掩模和晶圓檢測設備是一種綜合的掩模和晶圓檢測系統,將高精度成像與基於軟件的復雜缺陷分析和文檔記錄相結合。ACCENT Q7/Q8旨在方便快速高效地檢查半導體制造過程中使用的光掩模,提供一流的性能和可靠性。該設備采用數字檢測顯微鏡,具有卓越的成像和照明功能,可調節放大倍率和最大2000X的聚焦能力。這種先進的成像技術與先進的軟件定義缺陷檢測機相結合,能夠識別各種IC缺陷,包括顆粒缺陷、模具缺陷和管線缺陷。BIO-RAD Q7/Q8具有一組實時硬式處理器和專用內存,可為光束和電子束成像應用提供卓越的速度和精度。NANOMETRICS Q7/Q8提供了一系列自動檢查功能,包括用於全面覆蓋的自動晶片縫合、用於精確缺陷識別的全面缺陷檢查庫,以及用於高度精確對齊的高級掩模可視化和編輯工具。該工具還支持業界領先的自動化缺陷檢測和分析工具套件,包括顆粒缺陷分類、模塊缺陷檢查、參數缺陷分析和可選的高級平板檢測選項。Q7/Q8與ACCENT Aleris Semiconductor Quality Control Asset無縫集成,允許缺陷審查過程完全自動化。Aleris Semiconductor提供了一個完全集成的缺陷審查框架,能夠通過NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8模型快速審查、分析和報告晶片中發現的關鍵缺陷。通過集成到Aleris平臺中,ACCENT Q7/Q8確保所有已檢查的掩碼和晶圓數據都可隨時獲得,以便進一步查看。總體而言,BIO-RAD Q7/Q8掩模和晶片檢測設備為半導體行業的掩模和晶片檢測提供了卓越的性能和可靠性。其先進的成像和檢測功能,加上易於集成到Aleris半導體質量控制系統中,增強了對掩模質量的信心,並確保快速找到和審查關鍵缺陷。
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