二手 NANOMETRICS M-215 #9226306 待售

NANOMETRICS M-215是一種自動掩模/晶圓檢查設備,它為任何二維不透明表面提供經濟高效且可靠的檢查解決方案。該系統提供了一套全面的檢測和缺陷檢測參數，包括以下特點：對同一區域進行多瓦檢測，以提高可靠性。高速掃描速度高達0.5 Gigapixel/秒。從0.1um到50um的缺陷的全面缺陷檢測。自動校準例程,以確保結果的高可靠性。環境穩定,溫度穩定,穩定性提高.靈活的功能集,包括自動缺陷檢測、自動蒙太奇、自動缺陷分類、3D註冊和高級模式識別。具有多種顯示選項的綜合分析參數。獨立於應用程序的平臺,易於集成自定義應用程序。M-215單元設計用於半導體和MEMS行業,用於檢查12英寸大小的圖樣晶片和掩模。掩模/晶片檢查單元包括一個狹縫掃描頭、一個成像板和一個可選的任務應用模塊、一個控制器單元和一臺接口筆記本電腦。縫隙掃描頭可提供高達每秒0.5吉像素的高速圖像采集,而成像板可確保均勻的圖像強度。可選的任務應用程序模塊使用戶能夠為檢查算法定義各種參數。還提供了自動校準程序，以確保從多次檢查中獲得一致和可靠的結果。控制器單元提供了用戶筆記本電腦和掩模/晶圓檢測機之間的接口。此外,接口筆記本電腦還提供了多種功能,可用於分析和查看工具捕獲的數據。總之，NANOMETRICS M-215是一種經濟高效、可靠的掩模和晶圓檢測資產，提供了一套全面的檢測和缺陷檢測參數。它對同一區域進行的多層檢查、快速掃描速度、自動校準例程和靈活性,能夠快速準確地檢測任何二維不透明表面的缺陷。它是半導體和MEMS行業的理想選擇。