二手 NANOMETRICS Nano 215S #9226644 待售

NANOMETRICS Nano 215S是一種使用三維（3D）成像技術的高性能掩模和晶圓檢測設備。它專為半導體IC器件的生產過程而設計,具有多個樣本視圖攝像機和強大的LED光源,能夠對缺陷和特性進行精確的高速3D成像。納米215S還包括一個高速外部視覺系統，能夠捕捉和分析大的缺陷大小。這種掩模和晶圓檢測技術非常可靠，提供了1米分辨率缺陷的詳細三維成像。這樣可以在檢查掩模和晶片缺陷時提高準確性和可重復性。其集成的缺陷驗證和預分析軟件提高了洞察力的時間,而直觀的用戶界面增強了工作流程。除了精密的3D成像外，NANOMETRICS Nano 215S還具有寬視場（FOV）相機，可讓更大的覆蓋範圍觀察和快速檢測大於1毫米的缺陷。納米215S還具有提高采樣速度和精度的多波長檢測單元。其他功能包括允許同時捕獲多個數據流的異步觀測機，以及提供對不同信息進行自適應聚焦的自動對焦工具。NANOMETRICS Nano 215S提供晶圓和掩模CD-SEM性能。它能夠表征和測量不同材料上各種缺陷的大小。它提供對這些不同缺陷的實時分析和檢測，同時采用光學和掃描電子顯微鏡（SEM）策略進行即時分析。納米215S具有自動化晶片操作工具和自動采樣功能，允許統一的晶片采樣和處理。該資產可定制以匹配特定於其使用的應用程序,並且可以與第三方計算機連接以連接工作流。其高速成像可提高吞吐量,從而加快掃描和分析任務的執行速度。NANOMETRICS NANO NANO 215S是一種經濟高效且高性能的掩模和晶圓檢測模型,可提供更快的缺陷檢測和表征,並具有更高的精度。其強大的3D成像能力結合寬廣的FOV攝像頭和多波長檢測設備，提高了缺陷分析的準確性和可重復性，使用戶能夠快速準確高效地確定和修復問題。