二手 NANOMETRICS Nano 215S #9250105 待售

NANOMETRICS NANO 215S是一種高度先進的掩模和晶圓檢測設備,可實現精確可靠的高分辨率成像。通過卓越的圖像質量、精密的自動化檢查和直觀的操作員界面,該系統有助於提高產量並減少各種半導體器件應用的缺陷。一般情況下，這種掩模和晶片檢查單元的工作方式是捕獲樣品的數字圖像，然後進行自動檢查，以識別圖像中的任何模式或異常。它的模塊化設計為一系列成像和檢查能力提供了平臺，包括亮場顯微鏡、暗場顯微鏡、激光顯微鏡、SEM、紅外等。它還融合了多種技術，如基於AI的模式匹配、圖像比較、信噪比分析、缺陷分類等。Nano 215S的主要特點是其先進的傳感器、成像光學和軟件。分辨率高達0.4 µm,是業界最高的分辨率之一。包括CCD和sCMOS在內的傳感器可捕獲高動態範圍和高靈敏度的5百萬像素圖像。光學和顯微鏡提供從亮場和暗場模式的視頻成像，以3D成像與激光微米。機器的軟件在視覺上既直觀又用戶友好。它提供了廣泛的自動檢查功能,有助於識別對齊模式、缺陷、尺寸偏差、材料變化等。基於AI的算法可實現缺陷分類和報告,以及對自定義知識和特征的復雜模式識別。用戶友好的GUI可幫助用戶快速輕松地配置各種操作的檢查。總體而言,NANOMETRICS Nano 215S是一種高度先進的掩模和晶圓檢測工具,可提供卓越的圖像質量、精密的自動化檢測和直觀的用戶界面。它的模塊化設計和先進的成像和檢查能力有助於提高產量和減少缺陷，為半導體器件測試過程增加價值。