二手 NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #9166570 待售

NANOMETRICS NANOLINE CD 50是為滿足先進半導體生產線需求而設計的下一代口罩和晶圓檢測設備。該系統是根據光學、傳感器、成像和自動化方面的最新進展而開發的,能夠為各種應用提供快速、可靠和準確的檢查和計量。從基本架構來看，NANOLINE CD 50是一個全自動化、PC控制、自成一體的檢測站，配備了最先進的蔡司光學顯微鏡、Relion微處理器和工業機器人。工業級線性級使晶片的定位能夠高精度，使設備能夠精確掃描每臺設備。此外,該機器還能夠對直徑最大為5英寸的晶片進行成像,一次最多可成像四個基板,每小時最多可成像40個基板。該工具的高級成像組件確保對設備進行高分辨率檢查。蔡司顯微鏡配備了14mm x 10mm的視野，提供了73 nm像素大小的圖像。增強的CCD相機同時捕捉晶片圖像，分辨率高達4800萬像素，產生極高的圖像質量。NANOMETRICS NANOLINE CD 50的影像分析算法是基於特徵識別、影像分割與分類、色彩、對比度分析。該資產還能夠進行先進的模式識別和特征分類，從而能夠準確檢查諸如vias、contact和其他納米級結構等復雜模式。為了提高效率,可以將NANOLINE CD 50集成到更大的自動化模型中。此外，設備能夠與其他系統或設備通信，通過互聯網或其他網絡傳輸數據和結果。該系統與包括Windows、Linux、Mac OS X在內的多種操作系統兼容，總體而言，NANOMETRICS NANOLINE CD 50是一種高度先進、精密的掩模和晶圓檢測單元，旨在為先進的半導體生產提供準確、快速、可靠的檢測和計量。從其最先進的蔡司顯微鏡，到其精密的圖像分析算法，以及與價值鏈自動化的兼容性，NANOLINE CD 50對於任何需要可靠準確的掩模和晶圓檢查的應用來說，都是一個優越的解決方案。