二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #114973 待售
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ID: 114973
晶圓大小: 6"
Film thickness measurement system, up to 6"
Measures 100 to 500,000 Angstroms
Laptop upgrade.
NANOMETRICS NanoSpec 210是一種掩模和晶片檢查設備,設計用於監測光掩模和晶片的表面地形。NANOMETRICS NANO SPEC 210利用掃描隧道顯微鏡的最新技術,為表面提供精確的三維成像,用於缺陷檢測和表征。其光學系統被設計為產生遮罩和晶圓表面的高分辨率圖像。NanoSpec 210由一個帶有四個石英級的樣品室組成,用於定位和掃描。前兩級用於將樣品裝入腔室並定位掃描探針。接下來的兩個階段用探針掃描樣品。樣品室有三個光學窗口,一個用於樣品,兩個用於圖像捕獲。NANO SPEC 210裝有高解析度的掃描隧道顯微鏡(STM)單元,以捕捉蒙版和晶圓表面的高解析度影像。機器使用尖端極小的探針在樣品表面移動,生成高分辨率圖像。NANOMETRICS NanoSpec 210具有板載控制工具,允許用戶控制STM掃描儀的速度、方向和功率。NANOMETRICS NANO SPEC 210具有內置功能,可改進對掩模和晶片表面缺陷的檢測。它具有用於缺陷自動檢測的模式識別算法。該資產還具有多種圖像處理和過濾功能,幫助用戶分析圖像並檢測缺陷。NanoSpec 210是用於掩模和晶圓檢查的有效工具。它的功能使用戶能夠快速、輕松地監控掩模和晶片的表面地形,以便檢測和描述缺陷。其自動檢測算法和圖像處理能力旨在提高缺陷檢測和表征的可靠性和準確性。NANO SPEC 210是監視和分析掩模和晶片表面的有效工具。
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