二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #150266 待售

NANOMETRICS NanoSpec 210
ID: 150266
Film thickness measurement systems.
NANOMETRICS NanoSpec 210是一種掩模和晶片檢查設備,設計用於檢測半導體制造過程中使用的掩模和晶片上的缺陷。該系統可確保高圖像質量和準確性,最大限度地減少誤報並提高效率。NANOMETRICS NANO SPEC 210建基於兩個子系統:第一個是光學顯微鏡模塊,提供高分辨率、全彩22百萬像素CMOS傳感器和光學元件。它提供多層功能,允許快速輕松地切換圖層類型。內置的自動對焦單元在幾秒鐘內自動聚焦於樣品表面,集成的自動對準器確保準確的樣品對準。先進的光學模塊可實現自上而下和自下而上的成像,並提供可選的手動聚焦功能,可用於手動操作。第二種是晶圓檢測機,具有先進的圖像處理算法,具有較高的精度和吞吐量。該工具采用高端固態LED照明源進行寬廣的光線條件,並采用高功率光學器件,確保圖像清晰準確。NanoSpec 210具有高達4.2MHz的快速掃描速度,可以快速準確地識別和分類缺陷。NANO SPEC 210還具有內置缺陷分類資產,使用數字圖像處理算法快速檢查到0.3 µm大小的缺陷。此外,還集成了數字標記模型,用於標記和標記已識別的缺陷,從而改進了工作流程和可追蹤性。設備還包括直觀的用戶界面和軟件包,允許用戶快速配置、分析和排除晶片和掩碼。通過預定義的參數啟用自動成像,而一旦檢查了一批晶片,就會自動生成報告。總體而言,NANOMETRICS NanoSpec 210是一個先進且精確的掩碼和晶圓檢測系統,可提供高速度和準確性、直觀的用戶界面以及自動缺陷分類單元。它為用戶提供了可靠且經濟高效的解決方案,以減少生產時間,同時確保高質量的產品。
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