二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9105587 待售

NANOMETRICS NanoSpec 210是設計用於半導體制造的創新面罩和晶圓檢測設備。此工具提供了多種功能,旨在實現產品的快速、高效和準確的測試和檢查。該系統能夠對缺陷進行非接觸式測量，提供各種尺寸缺陷的高分辨率圖像。NANOMETRICS NANO SPEC 210配備了最新技術，包括高精度的XYZ級，允許遍歷過圖案，以精確測量各種參數，如特征尺寸、位置精度、線緣粗糙度等。此外,該單元還包括HiScan™,這是一個獨特的成像機器,具有暗場差分成像功能,能夠檢測非常小的缺陷。該工具還包括一個集成的激光源和RSTM™成像，它可以改進對粒子、包括在場中的粒子以及其他系統可能遺漏的亞微米缺陷的缺陷識別。NanoSpec 210還具有ALIGN™功能,這是一種軟件驅動的對齊資產,可幫助確保在測試開始之前將被測試的設備完全對齊。此外,該模型還配備了預編程成像和測量設置庫,可輕松配置用於各種實驗和測試。NANO SPEC 210還提供板載處理,這意味著用戶無需額外硬件即可啟動、查看、保存和分析結果。設備能夠實時顯示結果,從而在制造過程中縮短周轉時間。最後，NANOMETRICS NanoSpec 210附有直觀的圖形使用者介面，更容易控制各種系統功能。此用戶界面還包括用於自定義設置以匹配單個用戶首選項的選項。總體而言,NANOMETRICS NANO SPEC 210是一種先進的掩模和晶圓檢測裝置,有助於確保生產出質量最高的半導體元件。該機具有HiScan™、ALIGN™、RSTM™等多種特點，使其成為可靠、準確的檢測分析裝置。