二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9372725 待售

NANOMETRICS NanoSpec 210是一種綜合性的掩模和晶片檢查設備,旨在測量和分析掩模和裸晶片的缺陷。該系統采用高功率LED陣列的光源,可為各種基板提供明亮的照明,包括金屬面罩和晶片。NANOMETRICS NANO SPEC 210還包括一個高品質、500萬像素CCD相機和一個具有集成場擋的遠心鏡頭，允許精確測量和檢查分辨率高達2.5 μ m的晶圓特征。該單元包括一個功能齊全的計量軟件包，具有用於測量和分析缺陷的自定義功能，以及一個校準實用程序，以確保準確性和可重復性。NanoSpec 210使用激光驅動的圖像銳化（LIS）技術、專有的模式識別算法和高速缺陷檢測機來快速準確地識別缺陷,即使是那些位於陣列掩碼最深凹處的缺陷。該工具能夠在單個測量中自動分析和分組缺陷,提高測量精度,並為自動查看內容提供深度首選項。高度敏感的算法缺陷分析引擎允許即時生成和分析自動缺陷列表文件,並且該資產具有強大的圖像處理引擎,用於掩碼和晶圓的修復、清潔和優化。該模型的高級成像和分析功能不僅限於識別和分析缺陷。它可以執行廣泛的分析以揭示接觸孔缺陷、模具尺寸和形狀以及軌跡、導電層等。該軟件允許用戶使用大小、形式、信號和背景等參數快速搜索和比較不同的標簽，並且可以測量、分析和記錄各種工藝參數，如螺距、線寬、特征大小、叠加和灰度。此外,NANO SPEC 210能夠快速生成各種圖像增強參數,以支持困難的測量。NANOMETRICS NanoSpec 210是一種高度堅固的設備,設計用於惡劣的環境,如半導體制造廠。該系統采用節能、無風扇的設計,能夠在不發出噪音或振動的情況下運行,其高度耐用的結構允許在更廣泛的環境條件下運行。該設備的設計還便於與現有設備集成,從而在現有生產線內實現無縫運行。其直觀的用戶界面以及動態可視化和分析功能使其成為行業領先的生產設施中質量控制和產量優化的絕佳選擇。