二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9374756 待售

NANOMETRICS NanoSpec 210是一種最先進的全場光學掩模和晶圓檢測設備,利用先進的成像技術進行精確的缺陷檢測和表征。該系統采用基於相移幹涉儀（PSI）的先進光學檢測儀。這種幹涉儀使用多個激光源和一個獨特的象限鏡像機，產生一個完全相幹的光束，然後被引導到被檢查的掩模或晶圓上。然後,該工具可以精確測量樣品表面的任何變化或缺陷,從而實現異常精確的掃描和檢查結果。掩模和晶圓檢測資產還具有先進的成像和控制算法，旨在檢測和精確測量大小缺陷。這些算法使模型能夠準確檢測和繪制出深層和淺層缺陷,從而確保不會忽略潛在的破壞性缺陷。此外，這些算法還提供了優於傳統檢測系統的掩碼和晶圓對準能力。NANOMETRICS NANO SPEC 210設備還具有高度先進的數字圖像處理技術,能夠精確測量超過800萬像素的缺陷。此圖像分辨率允許系統進行高保真度的現場檢查,使用戶能夠在采取任何進一步的處理或糾正措施之前快速準確地識別潛在的缺陷區域。NanoSpec 210還具有動態對比度控制等幾個其他功能，允許自動控制設備的圖像對比度，以及能夠進行半自動檢查，這需要最少的操作員幹預。此外，機器還支持全場自動圖像縫合，允許快速收集統一和可重復的數據。這也使工具能夠快速查明潛在缺陷的位置。總之,NANO SPEC 210是一種高度先進的掩碼和晶圓檢測資產,它利用先進的成像技術、數字圖像處理和復雜的算法來精確檢測甚至最小的缺陷。該型號的高級功能包括動態對比度控制和全場自動化圖像縫合功能,可提供卓越的檢查結果,並顯著降低生產成本。