二手 NANOMETRICS NanoSpec 2100 #9272568 待售

NANOMETRICS NanoSpec 2100是一種下一代的掩模和晶圓檢測設備,能夠對光學光掩模和IC進行分析和生產優化。該系統利用先進的光學成像技術和3D映射,以無與倫比的精確度和保真度捕獲和分析缺陷圖像,從而能夠全面準確地看到制造過程。NanoSpec 2100提供真正的三維缺陷評估和高級光學測量功能,提供更快、更精確的信息,從而加速集成電路設備和掩碼的開發和生產。該單元測量尺寸高達0.005 μ m的特征級缺陷，並采用無調整統計計量算法自動檢測和表征晶圓缺陷。NANOMETRICS NanoSpec 2100非常適合進行詳細的缺陷分析和審查,可自動識別缺陷、空隙和礦坑並精確確定其大小。機器的高級硬件和軟件檢查為晶圓和掩模缺陷檢查提供了全面的結果,從而能夠詳細評估多個級別和站點之間的掩蔽和組成偏差。晶圓測量可以在單一缺陷和多個缺陷模式下進行,缺陷列表、排序和分析功能提供了解決故障機制和區域的有效方法。該工具的軟件界面支持操作員培訓，允許用戶自定義檢查過程並定義標準，專註於最感興趣的領域。NanoSpec 2100資產還允許將缺陷圖像和數據傳輸到其他數據庫系統,使其成為制造過程中數據共享、分析、參數設置和檢索的理想選擇。總體而言,NANOMETRICS NanoSpec 2100是一種高級檢查模型,可提供卓越的缺陷成像、評估和生產優化功能,從而使創建光掩模和IC的過程更加高效可靠。該設備具有自動缺陷識別和3D映射功能,可幫助減少周轉時間並確保對制造過程進行準確分析。