二手 NANOMETRICS NanoSpec 212 #9198403 待售

NANOMETRICS NanoSpec 212是一種先進的掩模和晶圓檢驗設備，用於測試半導體微芯片和其他電子元件。是一種結合非接觸式光學顯微鏡、激光幹涉測量和高分辨率成像，精確測量和可視化微米級和納米級特征尺寸、薄膜厚度等質量參數的二維檢測系統。該單元配備了幾種檢測解決方案，包括2軸和3軸激光幹涉儀、非接觸式光學顯微鏡以及可變角度圖像捕獲和分析。2軸幹涉儀有一個可見光源，能夠有多種成像分辨率，範圍從0.5微米到5.0微米。3軸幹涉儀提供0.5至30.0微米的成像分辨率,專為3D成像和測量表面紋理、地形及其他表面參數而設計。光學顯微鏡提供0.1至10.0微米的成像分辨率，適用於小幾何細節成像。可變角度圖像捕捉機是通過調整圖像捕捉角度來提高成像精度和圖像清晰度的。NanoSpec 212專為方便操作而設計,可實時提供用戶反饋。它包括一個明亮、全彩色的觸摸屏顯示屏，提供高分辨率的圖形圖像顯示屏。此外,此工具還具有許多自動化功能,這些功能消除了與掩模/晶圓檢查相關的大量體力勞動。例如,自動對焦控制和自動缺陷標記等功能可提高生產效率和節省時間。總體而言,NANOMETRICS NanoSpec 212是一種功能強大且可靠的掩模和晶圓檢查資產,它提供高分辨率成像、激光幹涉測量和其他檢查解決方案,並有助於對微芯片和電子元件進行高精度和高效率的檢查。