二手 NANOMETRICS NanoSpec 6100X #9223292 待售

ID: 9223292
晶圓大小: 8"
優質的: 1999
Film thickness measurement system, 8" 1999 vintage.
NANOMETRICS NanoSpec 6100X是一種領先的掩模和半導體晶圓檢測設備,旨在滿足半導體行業不斷變化的需求。它具有高性能成像、圖像處理和分析功能的組合,在晶圓和掩碼評估方面提供了極高的準確性。NanoSpec 6100X使用戶能夠從廣泛的檢查功能中進行選擇,包括質量控制、幾何檢查和光譜學。在質量控制方面,NanoSpec可以檢測到各種細微的缺陷,包括所有常見的半導體工藝不規則性。幾何檢查已升級,具有形狀檢測、拐角映射和線寬測量等新功能。NANOMETRICS NanoSpec 6100X增強了光譜測量能力,能夠高精度地測量薄膜和厚膜。NanoSpec 6100X具有高分辨率、高速成像系統。這使用戶能夠在快速采集和成像時間內準確檢測缺陷。高分辨率相機可以對最小的特征和缺陷進行深入分析。該單元還具有高級圖像處理功能,使用戶能夠識別細微的缺陷並可視化這些缺陷,以便進行詳細檢查。NANOMETRICS NanoSpec 6100X支持多種樣品類型,包括光掩模、光學顯微光刻、光刻膠和其他行業標準基板。該機器還具有自動化操作和數據導出功能,為用戶提供了更高的吞吐量和高效的操作。為了獲得最佳性能,NanoSpec 6100X采用了一系列專用附件。這些附件包括可選的偏振、濾鏡輪、舞臺和鏡頭機動化以及自動進行樣品更換的機器人技術。這些附件使用戶能夠根據自己的特殊需要定制工具,並根據手頭的任務定制結果分析。此外,資產附帶的軟件為用戶提供高級SEM兼容性、自動化功能、導出功能以及數據的後處理分析。綜上所述,NANOMETRICS NanoSpec 6100X是一種功能強大、用途廣泛的掩模和晶圓檢測模型,旨在滿足半導體行業的最高標準。它結合了高分辨率成像、圖像處理和分析能力,使其成為半導體分析和工藝檢驗的理想選擇。
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