二手 NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE #9096765 待售
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已售出
ID: 9096765
晶圓大小: 8"
優質的: 1998
Thin film measurement system, 8"
Cassette to cassette
Ellipsometer: J.A. Woolham M44
Operating system: IBM OS
Light source: LPS-300, 75W
EC 270
Pre-aligner: 5" - 8"
115V, 5A, 30/60Hz.
1998 vintage.
NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE是一種頂級的掩模和晶圓檢測設備,能夠執行大量高精度任務。可用於精確測量各種集成電路(IC)元件的金屬層、金屬平面、接觸通氣和重叠邊界。系統使用非常小的光學元件,以納米級尺度測量。這些組件允許對IC組件進行極其精確的測量,並提供可用的最精確的測量。NANOMETRICS NANOSPEC 8000X SE由於其強大的顯微鏡,能夠以非常高的分辨率實時成像。這使它能夠以更高的精度渲染圖像,並使設備能夠在幾秒鐘內以較高的精度比較多種類型的樣本曲面。它還使用強大的算法快速識別微觀表面特征,並且可以檢測樣品中的異常變化或任何缺陷。NANOSPEC 8000 XSE的其他功能包括可定制的光學級、軟件控制的自動對焦和自動對準。光學級能夠通過許多角度和高度進行操作,從而能夠非常精確地測量樣品的不同部分。軟件控制的自動對焦可以進行極其精確的聚焦調整,以獲得最詳細的測量結果。自動對準機還能夠將樣品精確定位在顯微鏡下進行最佳成像。NANOSPEC 8000XSE還具有直觀的圖形用戶界面,允許用戶輕松創建最適合自己需求的工作流程。它包括一個先進的光學成像庫,具有廣泛的樣本類型和參數,使工具能夠精確地測量和評估各種IC組件。鑒於NANOSPEC 8000X SE的特點和功能,很容易理解為什麼NANOSPEC SE是最可靠、最精確的掩模和晶圓檢測系統之一。憑借其精密和先進的軟件,它可以提供出色的測量,並有助於確保集成電路正常運行。這使得它成為使用IC或其他技術先進組件的公司不可或缺的工具。
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