二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 180 #19931 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 180
ID: 19931
晶圓大小: 4", 5"
Thin film measurement system Microspectro photometer head Wavelength range: 480-790 nm Measures from 400A to 40,000A.
NANOMETRICS NanoSpec AFT 180是一種掩模和晶圓檢查設備,可提供先進的空中成像和自動缺陷審查功能。該系統利用明暗場成像以及自動缺陷分類,快速檢測和報告小至90nm的晶片缺陷。NanoSpec AFT 180還提供了檢查過程的完全自動化和可追蹤性,從而可以輕松高效地保證質量。NANOMETRICS NanoSPEC AFT 180的成像功能基於獲得專利的掃描技術,可以快速檢查。傳感器沿水平和垂直方向掃描晶片,高速收集晶片每個區域的多個圖像。此過程有助於減少總體檢查時間,同時仍提供高質量的成像和準確的缺陷識別。該裝置配有兩個單獨的光學傳感器,用於探測空氣中的汙染物。使用紅外和可見光傳感器,NanoSpec AFT 180能夠檢測晶圓表面上的任何粒子,如灰塵、汙垢或其他缺陷。這樣可以確保迅速準確地查明和報告任何潛在的汙染源。除了成像功能外,NANOMETRICS NanoSpec AFT 180還提供自動缺陷審查。此功能允許對缺陷進行自動分類並分配嚴重程度級別,以確保僅根據可能實際造成屈服風險或性能風險的發布進一步檢查。機器還配備了先進的軟件包,使操作員能夠快速輕松地查看和分析檢查過程的結果。總體而言,NanoSpec AFT 180是一種功能強大的晶圓檢查工具,可提供可靠的成像、自動缺陷審查以及檢查過程的完整可追蹤性。這一資產使制造商能夠快速準確地檢測晶圓缺陷和空氣中的汙染物,同時確保保持有效的質量保證。
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