二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 200 #9386650 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 200是一種掩模和晶片檢驗設備，使用先進的自動化技術來完全檢查掩模和晶片表面的兩側，以及晶片的邊緣。這個系統設計用來檢測任何可能存在於結構中的微觀缺陷，如很小的顆粒、凹坑、結核和表面空隙。利用現場可編程柵極陣列（FPGA）準確檢測和識別晶圓和掩模表面的缺陷。該過程的第一步是在真空環境中將晶片和掩模轉移到AFT 200檢測階段。這樣可以確保灰塵和其他雜質從環境和晶圓和掩模表面清除。該階段包括高分辨率成像和非成像檢測單元。成像子系統使用高分辨率數碼相機在掩模和晶圓表面上捕獲多個圖像。非成像檢測子系統使用激光光束輪廓掃描技術來檢測掩模和晶圓表面上可能存在的任何缺陷。利用激光束利用特殊成像技術檢測缺陷剖面，然後對其進行處理和分析，以識別表面的任何缺陷。AFT 200捕獲的圖像存儲在其內存中,並使用專有的圖像分析技術進行分析。將圖像與檢查前創建的設計文件進行比較,並檢測和報告任何差異。這允許設備檢測可能存在的任何缺陷或異常。NanoSpec AFT 200機器能夠進行非常可靠和準確的缺陷檢測,甚至可以檢測到掩模和晶圓兩側存在的細微缺陷。該工具為用戶提供了有關檢測到的任何缺陷的詳細報告,使他們能夠準確識別和修復可能存在的任何問題。該資產還可用於分析產量數據,為制造過程提供有價值的見解。該模型還被設計為高度人性化，可由操作員輕松編程以運行和監控整個檢查過程。該設備可用於快速檢查和分析晶片和掩模樣品，使用戶能夠快速識別和解決任何可能的缺陷問題。此外,該系統非常靈活,可以輕松地與其他自動化系統集成。這允許用戶將AFT 200集成到任何生產環境中，並迅速實現其全部潛力。總體而言,NANOMETRICS NanoSPEC AFT 200是一個理想的掩模和晶圓檢查單元,適合希望識別和解決掩模或晶圓表面上可能存在的任何缺陷問題的用戶。它的高級自動化技術提供了關於任何檢測到的缺陷的準確、可靠和詳細的報告,使用戶能夠快速識別和解決可能存在的任何問題。此外，機器的靈活性和易用性使得它成為任何自動檢查過程的絕佳選擇。