二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT #9226129 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT是一款用途廣泛且先進的掩模和晶圓檢測設備,旨在滿足當今最苛刻的要求。它具有模塊化配置,具有高分辨率、線性掃描路徑,可確保高吞吐量、非常低的缺陷檢測靈敏度以及跨各種應用程序的可擴展性。NanoSpec AFT 210 VT利用2D和3D掃描技術進行掩碼和晶圓檢查,並能夠檢查尺寸最大1微米的最佳特征和形狀。它有兩個掃描路徑，可以同時操作。第一種是慢速掃描路徑，能夠精確測量蒙版和晶片上的3D特征，分辨率高達0.01微米。該掃描路徑還能夠測量強度、對比度和邊緣檢測。第二種是快速掃描路徑，非常適合測量邊緣位置和線寬變化，分辨率高達0.1微米。NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 VT的高分辨率成像系統允許無與倫比的缺陷檢測和測量精度。它的無透鏡設計有助於減少與傳統光學成像系統相關的缺陷檢測錯誤。該單元還配備了背光照明機，能夠檢測到劃痕、顆粒和其他不可見汙染物等細節。此外，該工具還能夠利用其優化的衍射增強技術檢測打印膠片上的未解決缺陷。可以使用NanoSpec AFT 210 VT附帶的精密圖像分析軟件來分析和比較所獲得的掩模和晶圓測量結果。NANOMETRICS NanoSPEC AFT 210 VT與行業標準圖像格式兼容,允許與以前存儲的數據兼容。該資產還便於與其他數據分析軟件集成，如統計過程控制和質量控制系統。總體而言,NanoSpec AFT 210 VT是一款用途廣泛、功能強大的掩模和晶圓檢測型號。它的模塊化配置和高分辨率成像設備提供了非常小尺寸的精確測量，即使在極其復雜的掩模和晶片上也是如此。該系統還包括先進的成像技術，包括改進的衍射增強系統，有助於減少誤報和誤測。最後，該單元易於與其他數據分析軟件集成，使其成為那些希望將掩碼和晶圓檢查納入其工作流程的人的一個絕佳選擇。