二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9197542 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是一款先進的掩模和晶圓檢測設備,旨在為半導體制造商提供高分辨率的檢測和缺陷定位能力。該系統旨在檢測和檢查蒙版和晶片上其他成像技術可能看不到的缺陷。該裝置利用先進的假色和光子波長探測器，允許用戶在掩模和晶片上查看復雜圖樣的微小細節。假色機便於檢測非常小的缺陷，而光子波長檢測器將識別由缺陷產生的躍遷或模式。此工具還以完全參考模式運行,為缺陷檢測提供更高的分辨率。此外,NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210還可與電子束或X射線等其他非成像方法結合使用,以實現更先進的檢測能力。NanoSpec AFT 210還具有先進的成像資產,允許用戶研究從不同角度獲得的圖像,從而能夠對缺陷進行深入分析。該模型采用光學和/或掃描電子顯微鏡等復雜成像技術，允許以更高的精度識別缺陷。NANOSPEC/AFT 210具有內置的數據分析軟件設備,能夠快速處理圖像和數據。它還設計用於高效的數據共享,可以跨網絡進行,也可以直接連接到PC或服務器。此外,該系統還具有直觀和用戶友好的圖形用戶界面,允許用戶快速輕松地訪問數據,而無需進行廣泛的培訓。該裝置設計為既可靠又易於維護，因為它是使用高質量的部件制造的，幾乎沒有活動部件。這樣可以確保準確和可重復的結果,並增強機器的穩定性和壽命。NANOMETRICS NanoSpec AFT 210還設計用於快速、輕松的設置和配置,使用戶能夠快速、輕松地實現最佳的工作設置。總而言之，NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210是一種先進、可靠、用戶友好的掩模和晶圓檢測工具。其高分辨率成像能力，加上高效的數據分析軟件，確保了快速準確的結果。無論是單獨使用還是與其他成像技術結合使用，這一資產都非常適合半導體制造商和其他需要精確、全面的掩模和晶圓檢查的應用。