二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9280739 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是一種用於正面計量、缺陷檢測和特征分析的綜合性掩模和晶圓檢測設備。該系統專為半導體制造而設計,提供了一個易於使用的平臺,可自動執行檢查過程。該平臺具有小零件分析功能,可用於小至25毫米的晶片。該單元采用納米級位移傳感技術，測量光刻缺陷、表面輪廓以及IC、微零件等元件上的其他特征。機器還支持納米級缺陷檢測，使用電流分析、光學故障檢查和足跡分析等功能。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210提供一系列圖像分析和測量功能,以增強其功能。集成的合並/拆分工具允許將晶圓圖像與其組件參數關聯。邊緣檢測算法有助於提高特征測量的準確性，而內置的定量缺陷庫為設置和分析測量和缺陷條件提供了方便的視覺輔助。資產的界面是用戶友好的，允許操作員輕松選擇參數，查看收集到的數據，分析結果。它還提供了一個自動化缺陷審查模式，以簡化質量控制。它配備了高速AutoFocus功能以實現可靠的成像,並配備了多角度測量功能,可同時測量多達兩個角度。該模型還具有可配置的檢查模式，以確保準確性和可靠性。NanoSpec AFT 210為掩模和晶圓檢測提供了高效而全面的解決方案。其納米級缺陷檢測能力、用戶友好界面、高速AutoFocus功能以及廣泛的圖像分析和測量能力，使其成為半導體制造過程中質量檢驗的可靠高效平臺。