二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9284966 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是為半導體工業設計的掩模和晶圓檢測設備。它是一個自動化系統，提供晶圓級缺陷的完整覆蓋和分析，包括外來和本地粒子缺陷。它能夠探測和測量各種尺寸的粒子，直至納米級。憑借其高速成像能力，NanoSpec可以在晶圓級提供粒子和缺陷的快速分析。該單元由自動掩模檢測模塊、晶圓檢測模塊和高速成像機組成。自動掩模檢查模塊配備激光掃描儀，可精確掃描掩模邊緣周圍，實時檢測缺陷和顆粒。這是配對的光譜成像技術，能夠檢測和測量不同大小和類型的粒子。晶圓檢測模塊用於檢測晶圓級的缺陷。它可以檢測不同大小、形狀和性質不同的材料的粒子。它還有一個高分辨率的成像工具，提供精確和詳細的粒子和缺陷的圖像。資產還有一個高速成像（HSI）模塊，能夠以高達每秒1,000幀的速率捕獲和分析粒子圖像。這提供了更高分辨率的粒子和缺陷圖像，然後對這些圖像進行分析以尋找潛在的糾正措施。NanoSpec還附帶了一個數據分析套件,用於分析檢測到的粒子和缺陷,並生成全面的報告。該套件包括一份統計和目視檢查報告，以及有助於進一步檢查和分析的詳細圖像。此外,NanoSpec還具有直觀的用戶界面,工程師可以輕松訪問和配置其眾多功能和選項。此外,它是一個可擴展的模型,可以根據需要輕松更新新的特性和功能。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，為半導體生產設施提供了完整的覆蓋範圍。NanoSpec AFT 210具有高速成像能力、廣泛的粒度檢測和直觀的用戶界面,是半導體掩模和晶圓檢測的理想選擇。