二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 2100 #96637 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 2100是一種綜合性的掩模和晶圓檢測設備。利用先進的掃描成像技術，該系統能夠檢測半導體制造過程中使用的掩模和晶片的微小缺陷。該單位還提供自動缺陷分類，為檢查人員快速準確地識別大量設備中的缺陷提供了系統的程序。AFT 2100利用可見光檢測和分析掩模和晶片中的微觀缺陷。它具有高度靈敏的光頭和更明亮的入射光源，能夠準確地表示復雜的拓撲，並能夠進行高速檢查。機器還結合了光譜分析，使其能夠檢測到各種缺陷中光譜反射率的微小差異，如空隙、汙染物和裂紋。AFT 2100配備了最先進的圖像處理算法和用戶友好的圖像分析工具，能夠快速識別缺陷。它可以自動對個別缺陷進行分類，並確定其臨界性。該工具具有識別系統缺陷的內置完整性計算器。它還提供了自動化的產量總結和分析，使其更容易分析大產量的晶圓和掩模。AFT 2100還包括高效的缺陷消除資產。該模型幫助檢查員減少缺陷,使他們能夠快速準確地識別和消除缺陷,從而提高制造的晶片和口罩的整體質量。此外，該設備能夠快速平均測試晶片的圖像，減少檢查和分析的總時間。AFT 2100是可靠、用途廣泛的掩模和晶圓檢測系統；提供準確、快速和易用性。它為檢查員提供了一個高效、有效和經濟高效的解決方案，用於識別和消除口罩和晶片中的缺陷。它結合了深度成像分辨率、光譜分析、缺陷識別、分類和完整性計算器，成為半導體制造商的寶貴工具。