二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 4150 #9057372 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 4150是一種精密的掩模和晶圓檢測設備。該系統旨在為半導體尺寸特征提供納米精度的高質量成像。該裝置的創新使得各種掩模和晶圓類型的大小特征都能實現亞微米分辨率。AFT 4150采用了獲得專利的AutoFocus技術-AFT,它顯著提高了機器的分辨率和可重復性。物鏡的自動控制確保即使是更薄的晶片在整個掃描過程中保持完美的焦點。這樣可以在更短的周期時間內實現更高分辨率的成像。AFT 4150借鑒了NANOMETRICS先進的光刻成像專業知識,將完美掃描技術作為一種多級掃描工具。Perfect Scan Technology使用精確的多級掃描算法來識別和掃描每個圖像位置分辨率最高（低於1.5nm）的特征。掃描算法采用專利圖像處理算法，快速識別特征，高效準確掃描。AFT 4150的五軸XY-theta級和壓電驅動掃描頭提供3-D成像和亞微米對準精度，以納米分辨率隔離缺陷和檢測邊緣。通過物鏡采集空中圖像。此映像提供了缺陷本地化和缺陷審閱所需的確切需求。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 4150的隔離濕點/幹點檢測通過識別缺陷的確切特征、精確位置和形態,為更好地檢測缺陷鋪平了道路。增強的圖像分析和先進的缺陷檢測功能可以識別最小的缺陷。該資產是為快速運行和低維護而設計的。NANOMETRICS獲得專利的圖像強度建模技術準確地模擬了圖像強度，用於缺陷的自動識別和分類。AFT 4150可用於檢查多種面膜和晶片類型，包括MEMS、矽和陶瓷基板。模型可以直接處理廣泛的通用圖像格式,包括BMP、PPM和TIFF。AFT 4150具有很高的可擴展性,可以輕松升級以處理更高分辨率的較大區域。該設備還采用高度可調的工作站、大型液晶顯示屏和軟觸摸控件，為操作員提供最大舒適度的設計。NanoSpec AFT 4150是用於掩模和晶圓檢驗的完美工具。其高度先進的圖像分析和自動缺陷檢測可確保在一系列基板上實現最高質量的成像,並具有亞微米精度。強大的系統設計和直觀的用戶界面使其成為生產實驗室和研究設施的理想選擇。