二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT #9397749 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT是一種先進的光學檢查設備（OIS），專門設計用於測量半導體掩模和晶圓的關鍵參數。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT使用非接觸成像系統快速準確地檢測半導體表面的缺陷和非均勻性。直接圖像傳感器成像配置可提高分辨率和靈敏度,從而實現快速準確的故障檢測。柔性和模塊化單元由多種元件組成，包括高分辨率鏡頭、電動XY掃描級和用於亞微米運動能力的微操縱器。該機器還結合了先進的光學器件和自動聚焦，以確保測量的最大統一性和準確性。NanoSpec AFT的軟件控制的人體工程學工作站具有直觀的用戶友好操作以及廣泛的分析和缺陷檢測功能。可以配置NANOSPEC/AFT工具以滿足任何特定應用程序的需求。資產能夠執行廣泛的測量,包括粒度、層厚度、界面位置、蝕刻速率和均勻性以及表面缺陷檢測。適用於各種半導體材料，模型能夠檢查任何尺寸或形狀的面罩或晶片的直徑達200毫米。堅固而精確的NANOMETRICS NanoSpec AFT提供高精度和可靠的測量精度,使用戶能夠獲得有關半導體工藝關鍵領域的寶貴見解。設備的可靠和準確的測量使其成為檢測制造異常並將其風險降至最低的極具吸引力的選擇。用戶友好的軟件和易於跟蹤的設置過程可實現快速可靠的性能,從而改進了過程控制,從而節省了時間和金錢。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT系統的低成本、可配置性和多功能性使其成為尋求降低產量損失的芯片制造商的絕佳選擇。該單元能夠處理範圍廣泛的半導體設計和材料，可以很容易地進行調整，以滿足特定的應用要求。機器的靈活性和可配置性也使其成為芯片制造商的理想選擇，他們要求在生產線中實現最大程度的控制和精度。