二手 NANOMETRICS Nanospec ATF210 #9170904 待售

NANOMETRICS Nanospec ATF210是專為高性能半導體制造而設計的下一代掩模和晶圓檢測系統。具體來說，ATF210是建立在掃描電子顯微鏡（SEM），這使得高細節成像。這些信息為半導體制造商提供了在制造過程中確定制造問題或工藝相關缺陷所需的數據。該ATF210配備了獨特的可變壓力級，具有縮小掃描到晶圓距離的能力，從而允許最小電子束失真。這種可變壓力級技術在其他非納米計量掩模和晶圓檢測系統中沒有特色。特殊的可變壓力級還提供了盡可能高的圖像清晰度和尺寸精度。Nanospec ATF210具有多種成像技術,能夠準確、詳細地查看布局模式、微掩碼和光掩碼。而且，ATF210能夠區分晶圓堆棧內的各種材料層；這一寶貴的能力密切支持半導體器件層在制造過程中的開發和優化。NANOMETRICS Nanospec ATF210還擁有業界最高分辨率的成像技術。SEM支持的高放大倍率設置允許ATF210以前所未有的詳細程度捕獲圖像。圖像分辨率的提高使得標本的最佳特征得以捕捉，而不會扭曲標本本身的結構。Nanospec ATF210的設計盡可能方便用戶。它具有直觀的圖形用戶界面，允許用戶快速熟悉系統功能和功能。此外，ATF210還配備了自動聚焦功能，這有助於減少設置和準備顯微鏡所需的時間。NANOMETRICS Nanospec ATF210也因其魯棒性和速度而符合大量生產要求。總體而言,Nanospec ATF210是任何半導體制造環境下的絕佳掩模和晶圓檢測系統.其強大的功能集和優化的掃描功能旨在為最復雜的布局模式、微掩碼和光掩碼提供可靠和準確的成像。此外,NANOMETRICS Nanospec ATF210具有直觀的用戶界面,使其用戶友好且分辨率最高的成像功能使系統具有確保最佳制造過程所需的多功能性。